Home » Producten » X-Sight Digital Image Correlation systemen

X-Sight Digital Image Correlation systemen

Optische meetsystemen die optimaal gebruikmaken van digitale beeldcorrelatie

Ontdek de X-Sight DIC-systemen voor eenvoudige en nauwkeurige metingen. Deze systemen zijn ideaal voor iedereen die ontwerpen wil controleren of inzicht wil krijgen in het gedrag van materialen.

 

Begin met het eenvoudige 2D-systeem voor basisbehoeften en stap vervolgens over op het 3D-systeem voor een meer diepgaande analyse. Met X-Sight DIC kunt u eenvoudig de gedetailleerde gegevens verkrijgen die u nodig hebt, of het nu gaat om onderzoek of praktische toepassingen.

X-sight about

Over X-sight

X-Sight, gevestigd in het hart van Europa, is een toonaangevend Tsjechisch bedrijf dat gespecialiseerd is in optische extensometers en contactloze vervormingsmetingen. Wij combineren verkoop, ondersteuning, productie en ontwikkeling op één locatie en passen ons voortdurend aan om aan de behoeften van onze klanten te voldoen.

Onze focus op innovatieve meettechnieken heeft ons tot een belangrijke speler gemaakt in de groeiende sector van materiaaltesten. Met een wereldwijd netwerk van wederverkopers en distributeurs bieden we geavanceerde meetoplossingen aan klanten over de hele wereld, waarmee we onze toewijding aan precisie en kwaliteit in elk aspect van ons werk laten zien.

DIC-2D

X-SIGHT 2D DIC System

The DIC 2D system offers precise measurements of strain and deformation, perfect for material and structural analysis. It is easy to use for design validations and simulations, providing reliable, detailed data quickly.

 

 

 

Meer Info

DIC 3D mapDIC 3D X-SIGHT 3D DIC System

The DIC 3D system captures detailed 3D strain and deformation, ideal for advanced structural analysis. With high-resolution imaging, it offers deep insights for complex research, ensuring accurate 3D data for design validation and material tests.

 

 

Meer Info

DIC on shaker

EVALUEER EN VERBETER UW NUMERIEKE MODELLEN

  • Controleer de voorspellingen van CAE-modellen
  • Valideer uw FEM-resultaten
  • Controleer de prestaties van uw experiment en testopstelling
  • Beoordeel de mechanische vervormingen van prototypes, onderdelen en monsters
Alpha DIC versatility

AL ONZE APPARATEN WERKEN MET ONZE VEELZIJDIGE SOFTWARE VOOR DIGITALE BEELDVERGELIJKING

De Alpha DIC-software is een in de branche erkend instrument voor de optische meting en analyse van vervorming, trillingen en rek van vrijwel elk materiaal of elke constructie.

  • Alpha hanteert een modulaire aanpak en biedt geoptimaliseerde ergonomie voor zowel geavanceerd onderzoek als routinematige metingen   LEES MEER OVER DE MODULES
  • Alpha beschikt over een breed scala aan technische testopties en softwaretools voor elk type test (trek, druk, torsie, afschuiving, buiging)   BEKIJK MEETTOOLS
  • Alpha DIC is gebaseerd op de digitale beeldcorrelatiemeettechniek en biedt geavanceerde machinevisietechnologie met gespecialiseerde functies   MEER INFORMATIE OVER FUNCTIES
DIC-Crack-propagation

Digitale beeldcorrelatie voor experimenteel onderzoek

  • Meet en analyseer wat buiten het gezichtsveld van uw ogen ligt
  • Van microchips tot bruggen – meet monsters op microschaal of structuren op macroschaal met een resolutie en precisie op micrometerschaal
  • Uitgebreide 2D- en 3D-metingen van vlakke en niet-vlakke monsters

X-Sight Digital image correlation FAQ

DIC is een optische meetmethode waarmee verplaatsingen, rek en vervormingen van materialen contactloos worden gemeten. Het systeem analyseert beeldreeksen om veranderingen in een patroon op het oppervlak te volgen en zo nauwkeurige meetdata te genereren.

X-Sight DIC systemen worden gebruikt voor:

  • Validatie van FEM- en CAE-modellen
  • Analyse van materiaalgedrag
  • Meting van vervorming en rek
  • Structurele testen en productontwikkeling

Typische toepassingen zijn o.a. trekproeven, vibratieanalyse en structurele monitoring.

  • 2D DIC: meet vervormingen in één vlak en is geschikt voor eenvoudige toepassingen.
  • 3D DIC: gebruikt stereocamera’s om ook out-of-plane bewegingen en complexe geometrieën te meten.

3D is dus nodig wanneer het object niet vlak blijft tijdens de test.

De systemen bieden zeer hoge nauwkeurigheid:

  • Subpixel resolutie < 0.008%
  • Rekresolutie tot enkele microstrain
  • Metingen van microschaal tot structuren van tientallen meters

Ja. De dynamische DIC systemen zijn speciaal ontwikkeld voor snelle processen zoals vibraties en impacttests:

  • Metingen tot 10 kHz
  • Real-time feedback
  • Hoge frequentie analyse van vervormingen

Vrijwel elk materiaal of structuur kan gemeten worden, van:

  • Microchips
  • Kunststoffen en metalen
  • Biologische materialen
  • Grote structuren zoals bruggen

X-Sight systemen zijn geschikt voor zowel:

  • Laboratoriumtests
  • On-site metingen (portable kits beschikbaar)

Alle systemen werken met Alpha DIC software, die:

  • Real-time en post-processing analyse biedt
  • Modulair is opgebouwd
  • Geschikt is voor diverse testen (trek, druk, torsie, etc.)

Ja. X-Sight systemen zijn modulair:

  • 2D systemen kunnen worden geüpgraded naar 3D
  • Softwaremodules kunnen worden toegevoegd afhankelijk van de toepassing
  • Contactloze meting (geen invloed op het testobject)
  • Volledig veldanalyse (niet enkel puntmetingen)
  • Hoge nauwkeurigheid en flexibiliteit
  • Geschikt voor zowel R&D als industriële toepassingen